產(chǎn)品分類
Product CategoryMCP-T710是日東精工(NITTOSEIKO)推出的Loresta-GXⅡ系列低阻電阻率計,專為高精度測量導(dǎo)電材料的電阻特性而設(shè)計。該設(shè)備采用四探針法(4-pin)測量原理,通過恒流施加技術(shù)消除接觸電阻和導(dǎo)線電阻的影響,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。其核心優(yōu)勢在于擴展的低電阻測量范圍(10??Ω至10?Ω)和硅晶體專項測試模式,可廣泛應(yīng)用于研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制領(lǐng)域。
?精準(zhǔn)測量技術(shù)?
采用四探針法,通過獨立電流注入和電壓檢測引腳,有效規(guī)避接觸電阻干擾,提升低電阻區(qū)域(如金屬薄膜、導(dǎo)電涂料)的測量精度。
硅晶體測試模式支持電流方向切換,可分析半導(dǎo)體材料的層間電阻特性。
?智能操作設(shè)計?
7.5英寸全彩觸摸屏實現(xiàn)參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)存儲的一鍵式操作,支持定時測量和自動保持功能,測試結(jié)束后自動鎖定結(jié)果。
上下限值報警功能可快速判定樣品合格性,適配生產(chǎn)線快速檢測需求。
?模塊化探頭系統(tǒng)?
支持ASR、LSR、ESR等專用探頭,針距恒定且壓力可控,確保不同材質(zhì)(如ITO玻璃、導(dǎo)電橡膠)的穩(wěn)定接觸。
鍍金彈簧探針設(shè)計延長使用壽命,降低維護成本。
?研發(fā)領(lǐng)域?
用于新材料(如導(dǎo)電塑料、電磁屏蔽膜)的電阻特性評估,通過高精度數(shù)據(jù)加速配方優(yōu)化。
?生產(chǎn)質(zhì)控?
在硅晶圓、金屬鍍層等加工環(huán)節(jié),實時監(jiān)測電阻波動,避免批次性缺陷。
?行業(yè)適配性?
兼容從實驗室到車間的多種環(huán)境,便攜設(shè)計支持現(xiàn)場檢測(如建筑涂料導(dǎo)電性測試)。
?精度提升?:較前代Loresta GP擴展10倍低電阻量程,滿足納米級薄膜檢測需求。
?效率優(yōu)化?:自動測量功能減少人工干預(yù),單次測試時間縮短至秒級。
?成本控制?:模塊化探頭降低耗材支出,長期使用性價比突出。
探頭需定期校準(zhǔn),避免尖銳物接觸針尖。
高濕度環(huán)境可能影響測量穩(wěn)定性,建議在溫控條件下操作。
該設(shè)備通過技術(shù)創(chuàng)新實現(xiàn)了材料電阻特性的全面解析,為工業(yè)4.0時代的精密制造提供了可靠工具。
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