JIMA 分辨率測試卡 RT RC-05B

JIMA 分辨率測試卡 RT RC-05B 

JIMA 分辨率測試卡 RT RC-05B 

，用于測量X射線系統的分辨率，以***X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

X線診斷影像系統的攝影 / TS圖像分辨能力測試美國Fluke空間分辨率測試卡線對卡光合作用光子通量密度PFDμmole/m2/s單位轉換及全自動換檔。照度積分測量(照度計時累計功能)及日累積光量DLI單位轉換。光源發(fā)光強度測量。光譜修正係數(SCF)功能。(含LED)點平均照度值功能，作為光照面之平均照度值測量。

時間控制自動鎖定功能，而不受測量者之干擾光源而影響照度測量值。雙顯示，4位數9999液晶顯示器。光譜感度值近似於國際照明協會規(guī)定之明視光譜曲線圖。測量準確且快速反應。讀值鎖定功能。讀值記錄及讀取功能。欲測光源實際產生之照度值測量而不受其它雜光之影響。比較器功能，作為高低照度值警示用。自動關機功能，以節(jié)省無謂電池能量消耗。顯示器背光功能。自動資料記錄及USB介面。本公司經營線對卡業(yè)務和其他相關產品的業(yè)務，經營有空間分辨率測試卡，射線線對卡，高分辨率測試卡，20線對測試卡等相關產品，更多產品的詳細信息請咨詢固安縣雙玉儀器有限公司，將會給您更加滿意的解答，期待您的到來。

 IMA RT RC-05B 分辨率測試卡是一款采用最1新半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監(jiān)控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。

詳細介紹

一、JIMA RT RC-05B 分辨率測試卡詳細介紹：

JIMA RT RC-05B是一款采用最1新半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監(jiān)控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。

JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 µ m至50 µ m）的分辨率。這對應于6微米和100微米（6 µ m和100 µ m）之間的焦斑尺寸。